取扱説明書類・参考書類

PFでのXAFS実験を行う場合に参考となる取扱説明書類や参考書類についてまとめ直しました。

• 取扱説明書類
• 参考書類

　

　

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取扱説明書類

• Windows版マニュアル：　XAFS測定、　モーター制御、　9Aミラー制御、　7Cミラー制御 　（旧版）
• XAFS測定、QXAFS、モーター制御、ミラー制御、クライオ制御のマニュアル、QXAFS、DXAFSのデータ変換、その他ユーティリティはこちらを参照してください。
  
• 触媒燃焼器取扱説明書
• 「XAFS実験ステーション利用の手引き」　　KEK Internal 2001-5
• BL-7C、12Cのフロッピーディスクドライブ利用について 　使用を取りやめました
• MCAWINで採取したデータの処理について
• MMC-2制御利用の手引き　(BL-9A、12Cのクライオ、全反射ステージ等の制御用）　使用を取り止めました(2007/9)
• 多素子SSDへの液体窒素補充法　(pdf）
• BL-9Aにおける多素子半導体検出器の利用について

　

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参考書類

ＸＡＦＳに関しては多くの成書、総説が出されているがその中からいくつかをリストアップする。

　

邦文の出版物

・宇田川康夫編著　日本分光学会測定法シリーズ26 「Ｘ線吸収微細構造−XAFSの測定と解析」(1993) 学会出版センター　　　実験を中心にまとめてある

• 石井忠夫著　「EXAFSの基礎−広域X線吸収微細構造」(1994) 裳華房　理論を中心にまとめてある。
• 太田俊明編著　「Ｘ線吸収分光法：原理、実験法、解析法及びその応用」(2002)アイピーシー　
  （お近くに著者が居れば著者割引をお願いすると値引きがあるはずです）
• 太田俊明、横山利彦編著　「内殻分光−元素選択性をもつX線内殻分光の歴史・理論・実験法・応用−」(2007)　アイピーシー

　

邦文の講習会等のテキスト類

・放射光シンポジウム予稿集　「EXAFSでどこまで分かるか」　日本放射光学会　（1990.1.23）

〒170-0013 東京都豊島区東池袋2-62-8-507　（有）ワーズ内

tel. 03-5950-4896、FAX 03-5950-1292、email jssrr@kk.iij4u.or.jp

・講習会　「EXAFS、XANESの基礎と応用」　日本化学会関東支部　（1986.6.11-12）

〒101 東京都千代田区神田駿河台1-5 日本化学会関東支部

tel. 03-3292-6163

　

　

邦文の解説

• 大柳宏之、太田俊明　「EXAFSおよび表面EXAFSにおける放射光の利用」、真空、26, 219 (1983).
• 大柳宏之　「EXAFS法による局所構造解析法−測定と解析法の可能性と限界−」　分光研究、 34, 271 (1985).
• 朝倉清高　「広域X線吸収構造分光(EXAFS)」、日本化学会編「第４版　実験化学講座　13巻　表面・界面」p.368 (1993)　丸善。
• XAFSシリーズ、放射光　11, 314, 388 (1998), 12, 219, 303, 395, 405 (1999), 13, 187, 319, 382, 385 (2000), 14, 55, 143 (2001).

　

欧文の出版物

・D. C. Koningsberger and R. Prins, "X-ray Absorption: Principles, Applications, Techniques of EXAFS, SEXAFS and XANES", John Wiley & Sons, New York (1988).

・B. K. Teo, "EXAFS: Basic Principles and Data Analysis", Springer-Verlag, Berlin (1986)　データ解析法中心

・J. Stohr, "NEXAFS Spectroscopy", Springer-Verlag (1992). XANES中心

・Y. Iwasawa ed., "X-ray absorption fine structure for catalysts and surfaces", World Scientific (1996).

　

欧文の総説

・P. A. Lee, P. H. Citrin, P. Eisenberger and B. M.Kincaid, "Extended x-ray absorption fine structure−its strengths and limitations as a structural tool", Rev. Mod. Phys., 53, 769 (1981).　　やや古いが理論、解析法、実験法等が良くまとめてある

・J. J. Rehr and R. C. Albers, "Theoretical approach to XAFS", Rev. Mod. Phys., 72,621(2001).

　

　

測定、解析の基準

測定、解析法についてその標準化が測られており、そのワーキンググループのレポートがInternational XAFS Societyのweb site (http://ixs.csrri.iit.edu/IXS/)に掲載されている。また、XAFS VI, Vのプロシーディングスにも収録されている。和訳は

山口、大柳、桑原、日本結晶学会誌31, 263 (1989).

　

XAFS国際会議のプロシーディングス

これらのプロシーディングスは最新の研究内容をサーベイするにも便利である。

[XAFSXIV]　　　　Proceedings of the 14th International Conference on X-ray Absorption Fine Structure　

[XAFSXIII] AIP Conference Proceedings 882 (2007)

[XAFSXII] Physica Scripta, T115 (2003)

[XAFS XI] J. Synchrotron Rad., 8, Part 2 (2001).

[XAFS X] J. Synchrotron Rad., 6, Part 3 (1999).

[XAFS IX] J. Phys. (Paris)　�W, 7, C2 (1997)

[XAFS VIII] Physica B, 208 & 209 (1995).

[XAFS VII] Jpn. J. Appl. Phys., 32, Suppl 32-2 (1993).

[XAFS VI] "X-ray Absorption Fine Structure" ed. by S.S. Hasnain, Ellis Horwood (1991).

[XAFS V] Physica B, 158, 701 (1989).

[XAFS IV］ "EXAFS and Near edge Structure", J. Phys. (Paris). 47, C8-Supple 12 (1987).

[XAFS III] "EXAFS and near edge structure III" ed by K. O. Hodgeson, B. Hedman and J. E. Penner-Hahn, Springer-Verlag (1984).

[XAFS II] "EXAFS and near edge structure " ed by A. Bianconi, L. Incoccia and S. Stipcich, Springer-Verlag (1983).