「PFにおけるマイクロビームを利用した XAFS, XRF, SAXS 実験の展望」の趣旨

　放射光を利用したXAFS、XRF、SAXSは、物質の構造を理解する上で強力な手法であり、工業材料のin situ分析や生体・環境の研究にも広く応用されるようになった。ところが、これらの試料は組成が空間的に不均一であるため、mm程度のマクロな情報だけでは不十分で、よりミクロな情報を必要としている。このような背景から、様々な手法によってマイクロビームを生成し、ピンポイントにXAFS, XRF測定を行う研究が盛んになりつつある。

　また、これまでPFの小角散乱ビームラインは偏向電磁石を光源とするビームラインしかなく、波長も固定であったため、ASAXSやUSAXS、微小領域SAXSなど、他の放射光施設の小角散乱ビームラインで標準的にできる実験ができなかった。これらのことから、アンジュレーター光源によるマイクロビームは、XAFS、XRF、SAXSそれぞれの分野の研究を発展に重要な役割を果たすと考えられる。さらに、これらの分野を融合した新たな研究への発展の可能性もある。

　
　PFでは現在、新BL-15Aの建設をめぐり、その利用方法などを模索している段階であるが、本研究会では、XAFS、XRF、SAXSにおける、マイクロビームを利用した研究の現状と新ビームラインへの期待等の意見交換を行い相互理解を深めるとともに、有機的な融合を模索し、これまでに見ることができなかった構造機能解析を実現できればと期待する。

　提案代表者（あいうえお順）
　　　　中井　泉（代表：東理大）、猪子洋二（阪大）、田渕雅夫（名大）、平井光博（群大）
　　世話人（所内）
　　　　阿部　仁、五十嵐教之、仁谷浩明