| 課題番号 | 研究代表者 | 所属 | 課題名 | ステーション |
|---|---|---|---|---|
| 2000P001 | 栗田 進 | 横浜国立大学工学部知能物理工学科 | 高圧下の二酸化チタンＸ線回折 | 18C |
| 2000P002 | 山口 博隆 | 工業技術院 電子技術総合研究所 電子基礎部基礎物質研究室 | SiCにイオン打ち込みされたAlおよびPのＸＡＦＳによる評価 | 11A 11B |
| 2000P003 | 原田 一明 | 工業技術院生命工学工業技術研究所生体物質部 | 超好熱菌由来の酵素類の構造解析 | 6A |
| 2000P005 | 谷口 雅樹 | 広島大学 理学部 | 耳石の蛍光Ｘ線分析 | 4A |
| 2000P006 | 太田 俊明 | 東京大学 大学院理学系研究科化学専攻 | 銀電極表面上の臭素イオン吸着構造の電位変調ＸＡＦＳ法による研究 | 12C |
| 2000P007 | 大渕 博宣 | 東京大学大学院工学系研究科応用化学専攻 | 放射光励起光ＥＸＡＦＳ測定によるIII-V族化合物半導体中の希土類原子周辺の局所構造解析 | 7C 12C |
| 2000P008 | 加藤 龍一 | 大阪大学大学院理学研究科 | リガンドの結合によるDNA修復酵素の構造変化 | 10C |