BL-15B2　表面界面Ｘ線回折実験ステーション


担当者：杉山　弘
6029（PHS: 4421）
hiroshi.sugiyama@kek.jp


l．概　　要

Ｘ線表面界面6軸回折計実験の専用ステーション、定位置出射型の2結晶分光器および集光ミラーを備えたビームラインである。偏向電磁石からの放射光を分光器、ミラーで単色化、集光したＸ線を使用することができる（集光無しの単色Ｘ線も使用可）。



　　　　　　　　　　　　　　　　　　ビームライン全体図(拡大図）


2．性　　能　　

光学系 2結晶分光器（Si（111）），湾曲円筒Ｘ線ミラー（Rhコート）
エネルギー領域 単色Ｘ線（非集光）：5〜25keV（分光器ON，ミラーOFF）
単色Ｘ線（集光）　：5〜17keV（分光器ON，ミラー両方ともにON）
分解能 2×10-4
ビームサイズ 単色Ｘ線（非集光）：40 mm（H）×8 mm (V)（max.）
単色Ｘ線（集光）　：0.6 mm（H）×0.4 mm (V)
ビーム強度 単色Ｘ線（集光）：10keVにおいて1×1011photons/s

　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　

3．実験装置等

Ｘ線表面界面6軸回折計
本装置は着脱可能な超高真空槽を装備した大型の6軸Ｘ線回折計である。結晶表面や界面に出現する特殊な構造を解析するための専用装置である。

●6軸回折計部、各回転軸の動作およびその分解能
　ω：水平軸，全周回転，1°/40000p
　2θ：水平軸，120°回転，1°/2500p，R＝600 mm
　χ：±10°，1°/20000p
　φ：全周回転，1°/20000p
　α：＋20°，1°/50000p
　γ：（2θ上、回転と並進の組み合わせ）＋400mm, 1mm/100p＆全周回転, 1°/5000p

図2　Ｘ線表面界面６軸回折計


●真空槽部
　到達真空度：4×10-8Pa
　K-cell：2台．1200℃まで加熱可
　RHEED装備。
　試料は1100℃まで加熱可および60Kまで冷却可。

●計測・制御装置
　SPECによる制御，自動測定が可能


4．その他

　ビームの高さは床面より約1225mm（単色Ｘ線、無集光の場合）、
　約1308mm＠ミラー集光点位置（光源から39.5m）（集光単色Ｘ線の場合）。
　Ｘ線表面界面6軸回折計（回転中心位置）は光源から約39.5m下流に位置する。


5．参考文献

1　M. Takahasi，S. Nakatani，Y. Ito，T.Takahashi，X. Zhang and M. Ando，Surf. Sci. 357（1996）78.

Last modified: 2005-04-12