第4回XAFS討論会プログラム

講演
番号
講演時刻 発表題目 発表者 所属
8月6日(月)
  13:00-13:05 開会の辞 野村昌治 KEK-PF
 
特別講演(1)[座長:西畑保雄]
6s01 13:05-13:55 異常散乱現象を用いたランダム系の環境構造解析 松原英一郎 東北大金研
 
  13:55-14:10 休憩    
XAFS及び関連現象に関する解析手法[座長:宮永崇史]
6p01 14:10-14:25 πXAFS (Photon Interference X-ray Absorption Fine Structure) - X線吸収スペクトル中の新たな微細構造 - 西野吉則1、鈴木基寛2、河村直己2、石川哲也1、 P.Kappen3, P.Korecki3, N.Haack3, G.Materlik3 1SPring-8/理研、2SPring-8/JASRI、3HASYLAB, DESY
6p02 14:25-14:40 水及びアセトニトリル溶液中の臭化物イオンとヨウ化物イオンのXAFSスペクトルにおける多重散乱の効果 谷田 肇、加藤健一1、渡辺 巌1 JASRI、阪大院理1
6p03 14:40-14:55 CO/PtクラスターのPt L-edge XANES多重散乱解析:CO濃度依存性 能登屋康晴、早川久仁子、藤川高志、久保田岳志1、紫藤貴文2、朝倉清高3、岩澤康裕2 千葉大院・自然、島根大院・総工理1、東大院・理2、北大触媒セ3
6p04 14:55-15:10 多重散乱法によるGd-Co系のCo K-edge XMCD の解析 山元いづみ、永松伸一、中村哲也1、藤川高志、七尾 進1 千葉大学大学院・自然科学研究科、東大生産研1
 
XAFS及び関連現象に関する実験技術[座長:宮永崇史]
6p05 15:10-15:25 ギャップ伝播による全反射XAFS測定法 田沼良平、奥田修弘、大沢通夫 (株)富士電機総合研究所
6p06 15:25-15:40 ラボXAFS装置の低エネルギー領域対応への新しいアプローチ 田口武慶、原田仁平、禧久敦徳、田路和幸1、篠田弘造1 理学電機株式会社、東北大学1
6p07 15:40-15:55 気相クラスターのサイズ選別EXAFS測定の試み 永谷清信、中川悦典、梶原行夫、大政義典、八尾 誠、片山芳則1、石井真史2 京大院理、原研放射光1、高輝度光セ2
 
  15:55-16:10 休憩    
[座長:松原英一郎]
6p08 16:10-16:25 静電容量プローブ顕微鏡-XAFS法:高空間分解局所表面XAFS測定 石井真史 SPring-8 JASRI
6p09 16:25-16:40 多素子半導体検出器の偏光全反射蛍光XAFS測定への応用とTiO2(110)上のCuおよびNiクラスターの構造解析 谷沢靖洋、居島 薫1、紫藤貴文、○朝倉清高1、岩澤康裕 東京大学大学院理学系研究科、北海道大学触媒化学研究センター1
6p10 16:40-16:55 光変調XAFS分光法の開発 岡本 薫、神舘健司、永井研輔、近藤 寛、横山利彦、江村修一1、宇留賀朋哉2、太田俊明 東大院理、 阪大産研1、JASRI2
6p11 16:55-17:10 ラボラトリーXAFS装置を用いた、高圧力下におけるXAFS測定 屋代 恒1、田口武慶2、大澤治武3、毛利信男4 1理学電機(株)応用技術センター、2理学電機(株)商品開発センター、3 東大物性研(現:日本IBM)、4東大物性研(現:埼玉大理)
6p12 17:10-17:25 放射光励起による可視発光を利用したSiO2:Tb局所構造評価 大渕博宣、今泉吉明1、菅原宏治2、田渕雅夫、竹田美和 名大院工、東北大金研1、都立科技大工2
6p13 17:25-17:40 斜入射角制御による薄膜局所構造の深さ方向依存性の研究 宇留賀朋哉、柳瀬悦也1、谷田 肇、西尾光司1、楠見之博1 高輝度光科学研究センター、新産業創造研究機構1
 
その他XAFS関連研究[座長:松原英一郎]
6p14 17:40-17:55 銅2価化合物の吸収端励起Kαスペクトル 林 久史、宇田川康夫、Chi-Chang Kao1 東北大学 多元物質科学研究所、NSLS1
 
Night Session<職員会館2階大集会室>
  19:00-21:00 XAFS研究と放射光施設の将来    
 
8月7日(火)
XAFSの材料科学への応用(1)[座長:島田広道]
7a01 09:00-09:15 in-situ時間分解DXAFS法による担持[Ru6C]/MgOクラスター触媒の動的構造変化に関する研究 鈴木あかね、山口有朋1、千原貞二2、稲田康宏3、紫藤貴文、朝倉清高4、野村昌治5、岩澤康裕 東京大学大学院理学系研究科、東京理科大学理工学部工業科学科1、理研2、名大物質国際研3、北海道大学触媒化学研究センター4、KEK-PF5
7a02 09:15-09:30 エネルギー分散型時間分解XAFS法によるMo(CO)6/Yゼオライトの脱カルボニル過程の構造変化に関する研究 山口有朋1,2、鈴木あかね1、紫藤貴文1、稲田康宏3、朝倉清高4、野村昌治5、岩澤康裕1 東大院理1 東理大理工2 名大物質国際研3 北大触媒セ4  KEK-PF5
7a03 09:30-09:45 調製法の異なる銅型ゼオライト中の銅イオン種の酸化還元特性 熊代良太郎、黒田泰重、長尾眞彦 岡山大学理学部
7a04 09:45-10:00 シリカ上の亜鉛酸化物種のXAFSによる構造解析 吉田寿雄、村田千津、清水 尚、服部 忠 名大院工
7a05 10:00-10:15 酸化雰囲気におけるPt触媒の活性支配因子 矢澤義輝、吉田寿雄、服部 忠 名古屋大学大学院工学研究科応用化学専攻
7a06 10:15-10:30 偏光全反射蛍光XAFS法を用いたAl2O3(0001)上に担持したNiの立体構造解析 居島 薫、谷沢靖洋1、紫藤貴文1、岩澤康裕1、朝倉清高 北海道大学触媒化学研究センター、東京大学大学院理学研究科1
 
  10:30-10:45 休憩    
[座長:朝倉清高]
7a07 10:45-11:00 アルミナ担持CoMo系触媒におけるCo K吸収端のin-situ EXAFS解析 佐藤剛一1,2、松林信行1、島田広道1、Cecile Glasson3、Christophe Geantet3 産業技術総合研究所1、科学技術振興事業団2、フランス触媒研究所3
7a08 11:00-11:15 耐硫黄性貴金属触媒のin-situ XAFS測定 阪東恭子、リオネル・ルビアン、佐藤剛一、田中智章、フランク デュメニエル、今村元泰、松林信行、葭村雄二 産業技術総合研究所 環境調和技術研究部門 クリーン燃料グループ
7a09 11:15-11:30 プロピレン光メタセシス反応下におけるMo酸化物触媒のin-situ EXAFS測定 一國伸之、村山美乃、阪東恭子1、島津省吾、上松敬禧 千葉大学工学部,産総研1
7a10 11:30-11:45 Se K吸収端XAFSによるHDSe反応過程の追跡 久保田岳志、濱崎有也、細見尚人、岡本康昭 島根大総合理工
7a11 11:45-12:00 In-situ XAFS測定によるTi含有ゼオライト光触媒の局所構造解析: 二酸化炭素の水による光触媒還元固定化 池上啓太、山下弘巳、安保正一 大阪府立大学大学院工学研究科
7a12 12:00-12:15 In-situ XAFSによるロジウム担持触媒の担体効果の検討 横田 滋、奥村 和1、谷田 肇、丹羽 幹1 JASRI、鳥取大工学部1
7a13 12:15-12:30 各種アルミニウム塩水溶液のAl-KXAFSスペクトルとその解析 松尾修司1、P. Nachimuthu2、R.C.C. Perera2、脇田久伸1,3 福岡大高機能研1、LBNL ALS2、福岡大理3
 
  12:30-13:30 昼食    
 
特別講演(2)[座長:野村昌治]
7s01 13:30-14:20 レーザプラズマ軟X線光源を用いた吸収分光測定とその応用 宮下敦巳 原研高崎研
 
  14:20-14:35 休憩    
XAFS及び関連現象に関する理論[座長:横山利彦]
7p01 14:35-14:50 EXAFSにおける多体効果の理論 荒井礼子、畑田圭介、藤川高志、Lars Hedin1 千葉大院・自然、Lund大・物理1
7p02 14:50-15:05 多重散乱理論によるK-edge XMCDの異方性 永松伸一、藤川高志 千葉大学大学院自然科学研究科
 
XAFSの化学への応用[座長:横山利彦]
7p03 15:05-15:20 ラボXAFS装置による相変化記録媒体の評価 田口武慶、高瀬 文、藤縄 剛、海老名敦1 理学電機(株)、帝人(株)1
7p04 15:20-15:35 XAFSとシミュレーションによる溶融LaCl3の構造解析 岡本芳浩1、矢板毅1、塩飽秀啓2、成田弘一1、Paul A.Madden3 原研・東海研1、原研・関西研2、オックスフォード大3
7p05 15:35-15:50 希土類を含むアルカリ塩化物混合溶融塩のEXAFS構造解析 松浦治明、Ashok K. Adya1、Daniel T. Bowron2 東工大 原子炉研、Abertay Dundee大1、ESRF2
7p06 15:50-16:05 複素芳香環型有機超原子価ヨウ素化合物のヨウ素L端XANES 小西健久、大村秀之、栗原成美1、藤川高志2、菜花貴弘2、東郷秀雄 千葉大学理学部、学習院大学理学部1、千葉大学大学院自然科学研究科2
 
  16:05-16:20 休憩    
[座長:中井 泉]
7p07 16:20-16:35 Au(111)表面におけるチオフェンの膜成長過程およびX線照射の効果に関するNEXAFSによる研究 中井郁代、南部 英、岩崎正興、近藤 寛、雨宮健太、横山利彦、太田俊明 東京大学大学院理学系研究科
7p08 16:35-16:50 ジグリコールアミド−アクチノイド、ランタノイド錯体におけるエーテル基の役割 矢板 毅、成田弘一、岡本芳浩、塩飽秀啓、館盛勝一 日本原子力研究所
 
XAFSの生命科学への応用[座長:中井 泉]
7p09 16:50-17:05 金属イオンを含む超希薄な生体試料溶液でのXAFS測定 菊地晶裕、足立伸一、谷田 肇1、城 宜嗣 理研播磨研究所、高輝度光科学研究センター1
 
XAFSの地球環境科学への応用[座長:中井 泉]
7p10 17:05-17:20 ごみ焼却飛灰中のPbの化学結合状態 名越正泰1、山本 浩2、中原啓介2、市川祐永3、小林克巳4、宇留賀朋哉 NKK 基盤技術研究所1、NKKエンジニアリング研究所2、鋼管計測 (株)3、高エネ機構物構研 放射光研究施設4、(財)高輝度光科学研究センター5
7p11 17:20-17:35 XAFSによるNOx吸着剤上のNOx存在形態の解析 渡部 孝、清 香織、大迫達也、横溝臣知1、脇田久伸2 (株)コベルコ科研、佐賀大学1、福岡大学2
7p12 17:35-17:50 ベントナイトに吸着したCsのEXAFS 中野政詩、河村雄行1、市川康明2、江村修一3、中田芳幸4 ソイルサイエンス総合研、東工大理工1、名古屋大環境2、大阪大産研3、いわき明星大理工4
 
  17:50-18:10 日本XAFS研究会総会    
 
  18:15-20:00 懇親会<職員会館1階レストランサンロール>    
 
8月8日(水)
XAFSの物理への応用[座長:岩住俊明]
8a01 09:00-09:15 光誘起磁性体CoWシアン化物のXAFS 横山利彦、岡本 薫、太田俊明、大越慎一1、橋本和仁1 東大理,東大先端研1
8a02 09:15-09:30 希土類L-吸収端XMCDにおける遷移金属原子の影響 圓山 裕、原田 勲1、河村直己2、J.Chaboy3、鈴木基寛2、小笠原晴彦4、小谷章雄4 広大理,岡大理1,JASRI2,Zaragoza大3,物性研4
8a03 09:30-09:45 単結晶MoO3の偏光XAFS解析 朝倉清高、居島 薫、大南祐介、鈴木秀士 北海道大学触媒化学研究センター
8a04 09:45-10:00 有機導体のXANESスペクトルでみた局所電子構造 初井宇記、岡本 薫1、小川 優1、横山利彦1、北島義典2、田中 寿、佐藤あかね3、藤原絵美子4、小林昭子4、太田俊明1 分子科学研究所、東大化学1、物質構造科学研究所2、東工大院理工3、東大スペクトル化学4
8a05 10:00-10:15 一酸化炭素及び水素吸着によるニッケル薄膜磁気異方性変化のX線磁気円二色性 松村大樹、横山利彦、雨宮健太、北川聡一郎、浜田康宏、太田俊明 東京大学大学院理学系研究科
8a06 10:15-10:30 ダイヤモンドアンビルセルを用いた高圧下XMCD測定 石松直樹、大石泰生1、鈴木基寛1、圓山 裕2、伊藤正久3、河村直己4、那須三郎5、川上隆輝5、下村 理 原研放射光、JASRI1,広大理2,姫工大理3,理研4,阪大基礎工5
 
  10:30-10:45 休憩    
[座長:圓山 裕]
8a07 10:45-11:00 Ni-Mn合金における磁気EXAFS解析 丸子良太、宮永崇史、岡崎禎子、永松伸一1、藤川高志1 弘前大学理工学部、千葉大学大学院自然科学研究科1
8a08 11:00-11:15 Ag微粒子における局所構造と赤外吸収増大 宮永崇史、鈴木裕史、喜多孝次、丸子良太、渡辺 巌1 弘前大学理工学部、大阪大学大学院理学研究科1
8a09 11:15-11:30 深さ分解XMCD法の開発-Fe/Cu(100)への適用- 雨宮健太、横山利彦、松村大樹、北川聡一郎、太田俊明 東京大学大学院理学系研究科
8a10 11:30-11:45 Ce-Ln二元系酸化物のK端EXAFS解析 小薄孝裕1、中川 貴1、山之内雅也1、加納正孝1、山本孝夫1、江村修一2 大阪大学大学院工学研究科1、大阪大学産業科学研究所2
8a11 11:45-12:00 希土類遷移金属アモルファス合金における希土類2p4d多電子励起の磁気円二色性 中村哲也、渡辺康裕、田村純平、平井栄樹、七尾 進、水牧仁一朗1 東大生研、JASRI 1
8a12 12:00-12:15 鉄窒化物ナノ粒子のXAFS 中川 貴1、加納正孝1、小薄孝裕1、山本孝夫1、江村修一2 大阪大学大学院工学研究科1、大阪大学産業科学研究所2
 
  12:15-13:15 昼食    
 
特別講演(3)[座長:竹田美和]
8s01 13:15-14:05 DAFSの特徴:強いところと弱いところ 水木純一郎 原研関西
 
  14:05-14:20 休憩    
XAFSの材料科学への応用(2)[座長:石井真史]
8p01 14:20-14:35 XAFSによるステンレスの孔食腐食反応のin situ観察 木村正雄、金子道朗1、鈴木環輝 新日本製鉄(株)先端技術研究所・新日本製鉄(株)鉄鋼研究所1
8p02 14:35-14:50 蛍光EXAFS法によるGaInN層中のIn原子周辺組成の測定 加藤大典、興津弘道、田渕雅夫、竹田美和、山口栄雄1、天野 浩1、赤崎 勇1 名古屋大学大学院工学研究科、名城大学ハイテクリサーチセンター1
8p03 14:50-15:05 GaAs中にドープしたZnドーパントのXAFS解析 杉山 淑、赤井俊雄1、下山謙司2、野村昌治3 CACs(株)四日市分析センター、CACs(株)筑波分析センター1、三菱化学(株)オプト技術開発センター2、KEK-PF3
8p04 15:05-15:20 InGaN薄膜におけるIn K端の蛍光XAFS測定 松田成修、宮永崇史、小豆畑敬、本間健史、丸子良太、秩父重英1、宗田孝之2、向井孝志3、宇留賀朋哉4、谷田 肇4 弘前大学理工、筑波大学物理工1、早稲田大学理工2、日亜化学3、高輝度光科学研究センター4
8p05 15:20-15:35 Ge-Te合金ガラスの局所構造解析 櫻井雅樹、柿沼藤雄1 東北大学・金属材料研究所、 新潟工科大学1

更新日 01.8.8