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XAFS講習会(入門実習編)
これからXAFSを始める人のための実習
2008年2月25〜26日 KEK-PF
高エネルギー加速器研究機構(KEK) 物質構造科学研究所
放射光科学研究施設(フォトンファクトリー)
後援:日本XAFS研究会
 フォトンファクトリー(PF)では、平成19年度より文部科学省の委託事業「先端研究施設共用イノベーション創出事業」【産業戦略利用】の一環として、産業界のフォトンファクトリー利用による研究を支援する「フォトンファクトリーの戦略的産業利用」を開始しています。
 この事業への参加支援を目的として、X線吸収微細構造(XAFS)法を用いた実験のための講習会(入門実習編)を行います。これまでXAFSに馴染みのない、または、聞いたことはあっても実際に測定したことのない産業界の研究者の方々を対象として、その原理などの簡単な講演から、実際の実験ステーションを用いた測定とデータ解析までを2日間で集中して実習して頂くことができます。
 概要・目的
 X線吸収微細構造(XAFS)測定の初心者または未経験者の方を対象として、簡単な理論と測定法原理の講習と実際の測定、取得データの解析を含めたXAFS測定のための講習会です。測定実習では、主催者側で指定する粉末もしくは溶液試料を用いて幾つかの代表的な検出法での測定を行い、XAFS法の特徴などを概観してもらいます。そこで取得するデータはその場である程度までの解析を行い、解析の具体的内容や得られる構造情報の様子を見て頂きます。また、希望に応じて参加者が持参する測定希望試料(要事前打ち合わせ)を用いた測定と解析を行うことも可能です。

 日時・場所
2008年2月25日(月)〜26日(火)
高エネルギー加速器研究機構物質構造科学研究所 放射光科学研究施設
アクセスつくばキャンパスマップ

 プログラム
2月25日(月)
12:00〜13:00 受付(PF研究棟2階会議室)
13:00〜13:05 事務連絡(PF研究棟2階会議室)
13:05〜13:20 事業の説明(PF研究棟2階会議室) 野村昌治、阿刀田伸史
13:20〜14:50 XAFS関連の講演(PF研究棟2階会議室) 渡辺巌(立命館大学)
14:50〜15:00 休憩
15:00〜17:30 放射線関連の安全教育*1(PF準備棟2階輪講室)
17:30〜 ビームラインなどの見学、試料の準備など
2月26日(火)
9:30〜12:00 標準的な透過法でのXAFS測定および解析実習(3グループ)
使用予定実験ステーション:BL-7C、9A、12C
・ビームライン調整
・粉体試料の均一/不均一でのスペクトル比較
・高次光の影響
・REX2000およびFEFFを用いた解析講習
12:00〜13:00 休憩
13:00〜15:00 各ステーション毎の各種XAFS測定実習
・ライトル検出器による蛍光XAFS測定
・2〜4 keV領域の蛍光/転換電子収量XAFS測定
・多素子SSDでの蛍光XAFS測定
・触媒試料のin situ条件におけるQuick XAFS測定
   の中の何れか3種。申し込み時点での希望に応じて選択。
15:00〜16:30 個別相談会(PF研究棟2階会議室) 野村昌治、阿刀田伸史
15:00〜 希望試料の測定実習
*1ご所属での放射線業務従事者登録の有無およびKEKでの外来者放射線業務従事者登録の有無によりメニューが異なります。両方とも有の方はこの安全教育は必要ありません。

 参加資格
XAFS測定に興味があり、実習後に「フォトンファクトリーの戦略的産業利用」事業などを利用してXAFS実験を行う可能性のある産業界の研究者グループ

所属で放射線業務従事者に登録されていない方
本講習会中の安全教育(簡単なテスト付)を受講して頂き、講習会期間中のみKEKでの放射線業務従事者として認定します。事前に所定様式の参加承諾書(ご所属の代表者印が必要)と健康診断書(KEK指定様式)の送付が必要です。
 
所属で放射線業務従事者として登録されている方
2007年度のKEKでの放射線業務登録に必要な書式(外来者放射線業務従事者登録、ご所属の代表者と放射線取扱主任者の印が必要)の送付が必要です。本年度に他の実験等で提出済みの方は必要ありません。

「フォトンファクトリーの戦略的産業利用」事業についての詳細はhttp://pfwww.kek.jp/innovationPF/index.htmlをご参照ください。

 参加費
無料ですが、旅費等は参加者負担とします。

 参加申し込み方法
 下記の事項を希望者個人毎に記載した電子メールを参加希望グループで取りまとめ、参加グループの代表者1名がxafs6@pfiqst.kek.jp宛に送信してください。
(1) 氏名(ふりがな)
(2) 所属
(3) 所属住所(郵便番号も含む)
(4) 電子メールアドレス
(5) 所属における放射線業務従事者登録の有無
(6) KEKにおける外来者放射線業務従事者登録の状況
(7) 興味のあるXAFS測定メニュー(下記(a)〜(d)の中から3つまで選択)
(a) ライトル検出器による蛍光XAFS測定
(b) 2〜4 keV領域の蛍光/転換電子収量XAFS測定
(c) 多素子SSDでの蛍光XAFS測定
(d) 触媒試料のin situ条件におけるQuick XAFS測定
(8) 測定希望試料(任意、大まかな組成と測定希望元素と試料形状を明記)
注意:本講習会で使用する実験ステーションで測定可能なエネルギー範囲は2.1〜22 keV(K吸収端ではPからMoまで、L吸収端ではZrよりも重い元素)です。そのエネルギー範囲内に吸収端を持つ元素であっても試料の状態によっては測定困難な場合があります。事前の打ち合わせで検討します。
(9) 宿泊の希望(シャワー・トイレ共同のシングルルームのみ利用可)
(10) 参加への意気込み(必須)
(11) 講習会内容への要望(任意)
(12) 本講習会の情報の入手先(任意)

 申し込み締切
締め切りました。
 定員
30名
先着順で受け付けます。但し、1研究グループからの申し込みは最大3名までとさせて頂きます。

 問い合わせ先
PF共用イノベ事務局
〒305-0801 つくば市大穂1−1
高エネルギー加速器研究機構物質構造科学研究所
E-mail:xafs6@pfiqst.kek.jp

Page Administrator: Yasuhiro INADA
Last update 2007/12/14