◆平成20年度採択課題
課題番号 課題名 主たる実施者
2008I001 XAFS 法によるBaTiO3 セラミックス中の添加物の局所構造解析  京セラ(株)
2008I002 LSI キャパシター絶縁膜の結晶化過程の観察  東京エレクトロン(株)
2008I003 XAFS による高性能M 型フェライトの金属イオンのサイト分布解析  日立金属(株)
2008I004 XAFS によるCu-Mo 触媒の活性発現機構の研究  花王(株)
2008I005 X線トポグラフィ法による化合物半導体結晶の微細構造解析  (株)三菱化学
2008I006 ナノ構造多層膜の元素変換反応におけるCa 添加効果のXAFS 解析   三菱重工(株)
2008I007 チーグラー・ナッタ触媒の構造解明  東邦チタニウム(株)
 

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