プログラム

主催

　ポスタープログラム

P-01	アモルファス・液体カルコゲナイド半導体における光誘起構造変化のGISAS/GID法を用いた構造解析への展望	坂口佳史(総合科学研究機構)
P-02	GISANS法の中性子多層膜ミラーの面内構造解析への応用に関する検討	丸山龍治（原子力機構J-PARCセンター）
P-03	軟X線GI-SASによる深さ方向分析の試み	竹下浩樹（京大工）
P-04	脂質混合リポソームの浸透圧に誘導される変形とその可逆性	小内輝明（群馬大）
P-05	高分子溶液蒸発過程での構造形成のその場観測	村上大樹（JST, ERATO,）
P-06	試料垂直型偏極中性子反射率計「写楽」によるGISANSへの展望	吉田　登総合科学研究機構（CROSS）
P-07	集光型偏極中性子超小角散乱装置SANS-J-Ⅱ	能田洋平（原子力機構）
P-08	GISANSおよび角度発散型中性子反射法のための高性能中性子集光ミラーの開発	山崎　大（原子力機構J-PARC）
P-09	小角X線散乱および小角中性子散乱法によるナノシートコロイドの観察	山口大輔（原子力機構）
P-10	ナノインプリント法により高分子基板表面に形成した表面微細周期構造の斜入射小角 X 線散乱（GI-SAXS）法による評価	篠原貴道（九州大）
P-11	ブロックコポリマー薄膜中で優先配向した球状ドメインBCC格子のGISAXS測定による解析	櫻井伸一（京都工芸繊維大学）
P-12	BL-15A でのGISAXS 測定とBL6A への展開:ナノドットを例に	奥田浩司（京大工）

　 2011-09-02