プログラム

プログラム・
講演者

主催

プログラム(予定）　（会場：4号館２階輪講室1）
　　　※5月11日15時更新

５月２６日（土）　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　総合司会：ＫＥＫ名誉教授那須奎一郎
9:15-	受付開始
9:50-10:00	はじめに：歓迎のあいさつ（安藤正海：東京理科大）
I. 結晶完全性
10:00-10:30	放射光を利用した自己相関型格子コンパレーター:その分解能の限界と結晶評価への新たな可能性（張　小威：高エネルギー加速器研究機構・放射光研究施設） Self-referenced Lattice Comparator Using Synchrotron Radiation: limits of its resolution and new possibilities for crystal characterization (Zhang Xiaowei: High Energy Accelerator Research Organization Photon Factory)
10:30-11:00	アボガドロ定数の測定とシリコン結晶の品質（藤本弘之：産業技術総合研究所） Determination of Avogadro Constant and the Required Quality of the Silicon Single Crystal (Hiroyuki Fujimoto: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology)
11:00-11:30	Ｘ線トポグラフィによるCZシリコン単結晶中格子欠陥の３次元分布（梶原堅太郎：高輝度光科学研究センター）　 3-D Observation Technique of Dislocations in Silicon Crystal with X-ray Topography (Kentaro Kajiwara: JASRI SPring-8)
11:30-12:00	シリコンの真正点欠陥研究の過去・現在・未来－赤外吸収を中心に－（井上直久：東京農工大学大学院工学府） Research on Intrinsic Point Defects in Silicon Crystal-History and Future (Infrared Spectroscopy) (Naohisa Inoue: Tokyo University of Agriculture and Technology)
12:00-12:30	加藤（Prof. N.Kato）動力学理論による消衰効果を取り入れた不完全な単結晶シリコンウェーファの多波長SL-X線イメージングについて　（近浦吉則：九州大学シンクロトロン光利用研究センター） Multi-waves SL imaging to characterize imperfect single-crystal wafers in the light of Kato dynamical extinction theory (Yoshinori Chikaura: Kyushu University Center of Synchrotron Light Application)
12:30-14:00	昼食
14:00-14:30	Ⅹ線トポグラフィから見たシリコン単結晶の完全性（川戸清爾：九州シンクロトロン光研究センター） Perfection Analysis of Silicon Single Crystal Viewed by X-Ray Diffraction Topography (Seiji Kawado:SAGA-LS)
14:30-15:15	シリコン最後の格子欠陥’点欠陥’制御の理論と実際（阿部孝夫：信越化学（株）半導体研究所） A New Model for Intrinsic Point Defects in Silicon Crystals grown from the Melt: Proof by X-Ray Diffraction Topography (Takao Abe: Semiconductor Laboratory, Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.)
15:15-15:45	高純度シリコン単結晶と物性(仮題）（米永一郎：東北大学・金属材料研究所 Defect study in impurity doped Si and related crystals (Ichiro Yonenaga: Tohoku University)
15:45-16:00	コーヒーブレーク
II. シリコン単結晶利用研究
16:00-16:15	改良型DEI設計・製作・実験(仮題）（呉彦霖：総研大学・博士課程3年） Development of new X-ray diffraction enhanced imaging system using channel-cut crystals (Yanlin Wu: YGUAS, PhD course 3rd year)
16:15-16:45	シンクロトロン光平面波による無転位Si単結晶内の微小欠陥観察と動力学的回折理論を用いたシミュレーション（鈴木芳文：九州工業大学） Topographic observation of minute defects in a dislocation-free Si single crystal wafer by a synchrotron radiation plane-wave, and computer simulation with dynamical diffraction theory (Yoshifumi Suzuki: Kyushu Institute of Technology)
16:45-17:00	屈折イメージングの計算　DFI空間分解能評価のための（金歌：九州工業大学修士課程2年） Calculation of X-ray Refraction Dark-Field Imaging - discussion for Spatial Resolution (Ge Jin: Kyushu Institute of Technology, Master 2nd year)
17:00-17:30	Design and Construction of a New Medical Beamline and Its Commissioning (Lim Jae-Hong: PAL)
18:30-20:30	懇親会（茶寮かげつ）
５月２７（日）　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　総合司会：ＫＥＫ名誉教授那須奎一郎
9:00-9:30	透過型off-Bragg条件におけるＸ線回折強度とビーム軌道 (高橋敏男：東京大学物性研究所) X-ray intensity and beam trajectory for the Laue-case off-Bragg conditions (Toshio Takahashi: ISSP University of Tokyo)
9:30-10:00	Ｘ線暗視野法を用いた軟組織描画システム：ハードウェア (杉山　弘：高エネルギー加速器研究機構・放射光研究施設) System for Visualizing Soft Tissue Using X-Ray Dark-Field Imaging (Hiroshi Sugiyama: High Energy Accelerator Research Organization Photon Factory)
10:00-10:30	アルゴリズム開発とX線画像進歩Ⅰ （湯浅哲也：山形大学） Evolvement of Algorithm and Its Application to High Performance X-ray Imaging I (Tetsuya Yuasa: Yamagata University)
10:30-11:30	アルゴリズム開発とX線画像進歩Ⅱ （砂口尚輝:ＰＦ/ 特別研究員） Evolvement of Algorithm and Its Application to High Performance X-ray Imaging Ⅱ(Naoki Sunaguchi: Photon Factory Postdoc )
11:30-11:45	X線暗視野法光学系の空間解像度向上の試み（中尾悠基：東京理科大学/修士課程2年） Attempt at Improving the Spatial Resolution under the X-ray Dark-Field Imaging (Yuki Nakao: TUS/Master Course 2nd year)
まとめ
11:45-12:00	明日のシリコン単結晶へ向かって（司会：安藤正海/東京理科大学）参加者：講演者および並河一道（東京理科大学）、中川翔（東京理科大学部4年）