次の写真はPF-ARのNW2AでDXAFS実験を行う際に用いる装置です。大きな定盤の上に、角度を振ることができる光学ベンチが備えられています。
- 特徴
- 測定したいエネルギー範囲に合わせられるように、光学ベンチの角度を振ることができます。
- 測定エネルギー領域に対応した検出器や感光体を設置できます。
- DXAFS測定を行う時だけNW2Aハッチ内に設置されます。
- 典型的な実験例
- Pdが酸化されていく様子をDXAFSで測定したものがあります。フーリエ変換からは、Pd-O結合に対応するピークが立ち上がってくること、Pd-Pd結合に対応するピークが減少していくことなどが見て取れます。
QXAFS測定の際に用いる定盤は、通常のstep scanでのXAFS測定で用いるものと同じものです。
BL-12Cハッチ内に設置されているXAFS実験定盤の上の様子です。光学ベンチの上にイオンチェンバー等が載っています。
- 特徴
- 光源から出た光をサンプルに導くまでに、分光器や種々のミラーを経ます。そのための真空に引かれたパイプラインがあります。
- サンプルやイオンチェンバー等は鉄等でできたハッチ内に置かれます。
- 通常の透過法の測定用のイオンチェンバーの他に、蛍光収量法のための多素子SSDが設置されています。
- サンプルを冷却して測定するためのクライオクーラーが設置されています。
