- BL-9C [QXAFS]
- 偏向電磁石を光源とし、出射ビーム位置一定のSi(111)二結晶分光器と弯曲円筒型集光ミラー(Rhコート)を備えています。
- 二結晶分光器を高速掃引しながら測定を行うQuick XAFS測定モードを備えています。
- 通常のXAFS実験で用いる電離箱検出器(Ion Chamber, IC)が使用可能です。
- BL-12C [QXAFS]
- 偏向電磁石を光源とし、出射ビーム位置一定のSi(111)二結晶分光器と弯曲円筒型集光ミラー(Rhコート)を備えています。
- 二結晶分光器を高速掃引しながら測定を行うQuick XAFS (QXAFS)測定モードを備えています。
- 通常のXAFS実験で用いる電離箱検出器が使用可能です。
- NW2A [DXAFS-1]
- 分散型光学系と一次元検出器によって目的とするエネルギー領域を一度に測定できます。
- 512素子のPDA検出器で1 msまで、1024素子のPDA検出器で2 msまでの時分割DXAFS測定が可能です。
- 多回数の再現が困難な単発現象の研究に最適です。
- 試料の均一性が重要です。
- 触媒反応用セル、温度制御器および反応開始制御器が使用可能です。
- NW2A [DXAFS-2] この測定モードの利用についてはビームライン担当者に問い合わせて下さい。
- 分散型光学系と一次元検出器(XSTRIP)によって目的とするエネルギー領域を一度に測定できます。
- Pump&Probe法を用いた場合の最高時間分解能はサブナノ秒です。
- 試料の均一性が重要
- パルスYAGレーザーとの同期が可能です。
- NW10A [QXAFS]
- 偏向電磁石を光源とし、出射ビーム位置一定のSi(311)二結晶分光器と弯曲円筒型集光ミラー(Ptコート)を備えています。
- 二結晶分光器を高速掃引しながら測定を行うQuick XAFS測定モードを備えています。
- 通常のXAFS実験で用いる電離箱検出器が使用可能です。
BL-12Cの様子です。左のラックには計測機器が並んでいます。右奥がPFリングの方向で、光はそちらから出てきます。
- 測定したい元素の吸収端エネルギーが出るビームラインを選択します。
- 希薄試料の測定がしたい場合、Lytle検出器が利用可能なBL-9C, 12C, NW10A になります。
- QXAFS法の時間分解能では足りない場合、DXAFS法が利用できるNW2Aになります。
