担当者:仁谷浩明
2010年9月17日更新
ビームライン、ステーションの選択
試料の種類・形状 | 利用可能エネルギー範囲 | ビームサイズ (横×縦) | 測定装置 (検出器等) | 時間分解測定 (実用分解能) | 高次光除去ミラー | |
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BL-7C | 4 -- 20 (keV) | 集光時 1.5 mm(H) × 1 mm(V), 非集光時 5 mm(H) × 1 mm(V) | ||||
BL-9A | 希薄試料可 | 2.1 -- 15 (eV) | 1 mm(H) × 0.35 mm(V) | 19素子SSD | Rh or Ni coat | |
BL-9C | 4 -- 23 (eV) | 1.5 mm(H) × 0.5 mm(V) | Quick scan | |||
BL-12C | 希薄試料可 | 4 -- 23 (eV) | 0.65 mm(H) × 0.5 mm(V) | 19素子SSD | Quick scan | Ni coat |
BL-NW10A | 希薄試料可 | 8 -- 42 (eV) | 0.5 mm(H) × 1.1 mm(V) | 19素子SSD | Quick scan | Pt coat |
BL-NW2A | 4 -- 25 (eV) | 0.2 mm(H) × 0.5 mm(V) | DXAFS | Rh or Ni coat | ||
BL-4A | 6 -- 20 (eV) | 1 mm(H) × 0.2 mm(V), マイクロビーム利用時 5 μm x 5 μm | ||||
BL-27B | 非密封RI試料可 | 4 -- 20 (eV) | 非集光時 40 mm(H) × 6 mm(V) |
問い合わせ:フォトンファクトリー利用相談窓口