PF BL-4A
放射光蛍光X線分析 / X線マイクロビーム
ステーション

概要

本ステーションでは 単色X線集光ビームによる放射光蛍光X線分析(SXRF)を主に行っています。 放射光蛍光X線分析は、検出下限の低いまた感度の高い局所領域非破壊元素分析法として、生物試料や岩石・環境試料の分析、物質材料の評価に使われています。
放射光蛍光X線分析は元素分析のみならず、化学状態分析、表面・界面分析などに応用されています。

　本ステーションでは、Kirkpatrick-Baez集光光学系を用いたX線マイクロビーム(ビームサイズ約5µm角）、およびpoly-Capillaryレンズを用いたセミ マイクロビーム（ビームサイズ25µm～100µm径）による蛍光Ｘ線分析、XANES測定などが定常的に行えます。

本ステーションは、 偏向電磁石光源を利用し、ビーム出射位置固定型２結晶分光器(DCM)により単色化したX線領域の放射光を利用しています。 実験ハッチの位置は光源より13mにあり、 マイクロビーム光学系はハッチの中に設置されています。