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◆平成26年度採択課題
課題番号 課題名 主たる実施者
2014I001 X線CT法による錠剤成分の結晶多形及び空隙分布の評価  エーザイ(株)
2014I002 高温KOH・NaOH 蒸気エッチングを用いたSiC 結晶貫通転位検出・分類技術のX 線トポグラフィー検証及びSiC表面潜傷の評価  (一財)ファインセラミックスセンター
2014I003 小角X線散乱法による金属含有ナノ粒子水溶液の評価  新日鐵住金(株)
2014I004 放射光施設におけるタルボ干渉計用回折格子の性能評価手法の研究  (株)ASICON
2014I005 公開延期  
2014I006 プリンテッドエレクトロニクスのための有機半導体材料の結晶構造解析  日本化薬(株)
2014I007 公開延期  
2014I008 新規EUV光学素子の特性評価  NTTアドバンステクノロジ(株)
2014I009 鉄鋼プロセス原料の三次元組織のCT観察  新日鐵住金(株)
2014I010 GaN系半導体の電子状態のARPESによる評価  日亜化学工業(株)
2014I011 XAFSを用いた鉄鋼原料の反応過程の観察  日鉄住金テクノロジー(株)
2014I012 X線トポグラフィーによるSiC単結晶ウエハにおける加工由来の表面欠陥の評価  山口精研工業(株)