ＰＦ軟Ｘ線（軽元素）XAFS測定ステーション

２０１４年　１月　３日更新

ＰＦには、軟Ｘ線領域でXAFSを測定することのできるビームラインが多数あります（BL-9Aも2.1keV以上が利用できます）が、ここでは特に軽元素のXAFS測定に適した２つのラインを紹介しています。各ステーションの詳しい紹介は、見出しのビームライン名のところからリンクされています。この他のラインについては、「ＰＦの実験ステーション・実験装置」のページからご覧下さい。

また、実験の具体的な方法に関しては、「軟X線領域のXAFS測定」のページもご参照下さい。

4 keVを超える硬X線領域のXAFS測定については「硬X線XAFS」のページをご覧下さい。

BL-11B

偏向電磁石を光源とし、真空２結晶分光器により、1.72 - 5 keVの利用が可能です。

Si, P, S, Cl, Ar, K, CaのEXAFS測定（電子収量法、蛍光法、透過法）を行うことができます。

BL-11A

偏向電磁石を光源とし、斜入射回折格子分光器により、70 - 1900 eVの軟Ｘ線を利用することができます。

B, C, N, O, F, Ne, Na, Mg, AlのEXAFS測定が可能です。

2013年度末に光学系の大部分を更新する予定ですが、ビームラインの性格は変わりません。

問い合わせ：北島義典 yoshinori.kitajima@kek.jp