軟Ｘ線（軽元素）吸収スペクトロスコピー（XAFS）／ビームライン、ステーションの選択

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• 軟X線（軽元素）吸収スペクトロスコピー（XAFS）が行えるビームライン、ステーション

ＰＦには、軟Ｘ線領域でXAFSを測定することのできるビームラインが多数あります（BL-9Aも2.1 keV以上が利用できます）が、ここでは特に軽元素のXAFS測定に適した３つのラインを紹介しています。各ステーションの詳しい紹介は、見出しのビームライン名のところからリンクされています。この他のラインについては、「ＰＦの実験ステーション・実験装置」のページからご覧下さい。

また、実験の具体的な方法に関しては、「軟X線領域のXAFS測定」のページもご参照下さい。

4 keVを超える硬X線領域のXAFS測定については「硬X線XAFS」のページをご覧下さい。
• BL-11A
• 偏向電磁石を光源とし、斜入射回折格子分光器により、70 - 1900 eVの軟Ｘ線を利用することができます。
• B, C, N, O, F, Ne, Na, Mg, AlのEXAFS測定（主に電子収量法／エネルギー領域によっては蛍光法）が可能です。


• BL-11B
• 偏向電磁石を光源とし、真空２結晶分光器により、1.72 - 5 keVの利用が可能です。
• Si, P, S, Cl, Ar, K, CaのEXAFS測定（電子収量法、蛍光法、透過法）を行うことができます。


• BL-2A
• 軟Ｘ線アンジュレータを光源とし、真空２結晶分光器により、1.74 - 5 keVの高密度・高分解能軟Ｘ線を利用することができます。
• 光源がアンジュレータであるためEXAFS測定には不向きですが、XANESではBL-11Bよりも高分解能で測定することができます。




• ビームライン、ステーション選択のポイント


• 測定したい元素の吸収端エネルギーをカバーするビームラインを選択して下さい。
• 詳しいことは各ステーション担当者まで、お問い合わせ下さい。

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問い合わせ：フォトンファクトリー利用相談窓口