硬X線XAFS

担当者:仁谷浩明
2014年8月17日更新

  • keyword: XAFS, EXAFS, XANES, local structure

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    ビームライン、ステーションの選択


    測定条件から見たビームライン、ステーションの特性
     試料の種類・形状利用可能エネルギー範囲ビームサイズ
    (横×縦)
    測定装置
    (検出器等)
    時間分解測定
    (実用分解能)
    高次光除去ミラー
    BL-9A希薄試料可2.1 -- 15 (eV)1 mm(H) × 0.35 mm(V) 19素子SSDRh or Ni coat
    BL-9C4 -- 23 (eV) 1.5 mm(H) × 0.5 mm(V)Quick scan
    BL-12C希薄試料可4 -- 23 (eV)0.65 mm(H) × 0.5 mm(V) 19素子SSDQuick scanNi coat
    BL-NW10A希薄試料可8 -- 42 (eV)0.5 mm(H) × 1.1 mm(V) 19素子SSDQuick scanPt coat
    BL-NW2A4 -- 25 (eV)0.2 mm(H) × 0.5 mm(V)DXAFSRh or Ni coat
    BL-4A6 -- 20 (eV)1 mm(H) × 0.2 mm(V),
    マイクロビーム利用時 5 μm x 5 μm
    BL-27B非密封RI試料可4 -- 20 (eV)非集光時 40 mm(H) × 6 mm(V)

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    問い合わせ:フォトンファクトリー利用相談窓口