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  お知らせ

 2005年8月19日
  論文リストを更新し、コインシデンス分光装置の紹介を追加しました。

 2003年10月29日
  CMA製作技術シリコン清浄表面作製技術を追加しました。

 

  メンバー

  • 物質構造科学研究所 PF: 間瀬一彦、垣内拓大
    〒305-0801茨城県つくば市大穂1-1
    TEL: 029-879-6107、FAX: 029-864-2801
    E-mail: mase@post.kek.jp
  • 佐賀県立九州シンクロトロン光研究センター: 小林英一
  • 千葉大院: 上野信雄、奥平幸司
  • 大阪大学産業科学研究所: 田中慎一郎
  • 広大院理: 田中健一郎、関谷徹司
  • 愛媛大学: 長岡伸一
  • 群馬大学: 奥沢 誠、飯島千尋
  • 横浜国立大学: 田中正俊、藤田斉彦、橋本章吾

 


   


研究活動の概略
論文リスト
コインシデンス分光装置の紹介
コインシデンス解説記事
シリコン清浄表面作製技術(pdf)
シリコン清浄表面作製技術
CMA製作技術(pdf)

ガイドブック
 試料取扱ガイド
 取扱処理届一覧
 パルスバルブ取扱ガイド
 BL-2B1でのSi清浄表面作製手順
 Origin5を用いた新しいEICO解析
 177ns成分のFFTを用いた除去(Origin)
 誤差の解析(エクセルのみ使用)
 FFTによって生じる誤差の解析 (Origin)
 MCP調整方法
 TOFのプロット
 BL-2B1コインシデンス測定マニュアル
 Originを用いたメッシュ電流の補正
 光軸調整
 光電子スペクトルプロット
 BL-2B1測定チェンバー取り扱いマニュアル
 カレイダグラフによる収率プロット


リンク集
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Updated on 2007-09-19 by 間瀬一彦